Система Orphus

Система Orphus

Дифракция рентгеновских лучей.

В природе в роли дифракционных решеток выступают вещества, имеющие кристаллическую структуру. Для таких веществ характерно упорядоченное расположение атомов и молекул в пространстве. При их облучении электромагнитными волнами последние испытывают явление дифракции на атомах и молекулах. Структура наблюдаемой дифракционной картины определяется закономерностями расположения атомов и молекул.

Условие диффракции d << \lambda.

В кристалле в роли щелей выступают атомы или молекулы, а период решетки определяется межатомным расстоянием d. C учетом d \approx 10^{-8}м необходимо использовать электромагнитные волны с очень малой длиной волны - в рентгеновском диапозоне \lambda \approx 10^{-12} м.

В самом простом случае? воспользовавшись формулой Вульфа-Брэгга

d_x=0,5m_x\lambda/\sin\theta_m

В рентгеноструктурном анализе разработаны два метода:

1 Метод Лауэ, в котором узкий пучок рентгеновского излучения направляется на исследуемый монокристалл. В результате на фотопластинке получается система пятен максимумов. По расстоянию и интенсивности этих максимумов можно расшифровать структуру данного кристалла.

2 Метод Дебая-Шерера.

Используется узкий пучок и кусок поликристалла. Кристалл измельчают в порошок и из него прессуется образец в виде стержня. Дифрагированный пучок будет образовывать конус направлений - дебайграмма.


Система Orphus

Комментарии